• Portugal, EUR | NL
  • + Evenement toevoegen
  • binnenkomst
    Lisbon, + 50 km
    hoofd- / events / ICIBMCEA 2020: 14. International Conference on Imaging Based Material Characterization of Electronics and Applications
    ICIBMCEA 2020: 14. International Conference on Imaging Based Material Characterization of Electronics and Applications

    Tickets voor ICIBMCEA 2020: 14. International Conference on Imaging Based Material Characterization of Electronics and Applications

    Lisboa, PT
    Lisbon
    Zoek een ticket
    dienstregeling
    beschrijving
    Foto en video
    plaats

    dienstregeling «ICIBMCEA 2020: 14. International Conference on Imaging Based Material Characterization of Electronics and Applications»

    Sep
    Wednesday Wednesday-12:00am
    Sep, 2020
    12:00 AM
    Lisboa, PT  ?
    Lisbon

    beschrijving

    De International Research Conference Aims and Objectives De International Research Conference is een federatiegevoede organisatie die zich toelegt op het samenbrengen van een aanzienlijk aantal uiteenlopende wetenschappelijke evenementen voor presentatie binnen het conferentieprogramma. Evenementen zullen gedurende een tijdsspanne tijdens de conferentie duren, afhankelijk van het aantal en de lengte van de presentaties. Met zijn hoge kwaliteit, het biedt een uitzonderlijke waarde voor studenten, academici en onderzoekers uit de industrie. ICIBMCEA 2020: 14. International Conference on Imaging Based Material Characterization of Electronics and Applications heeft tot doel vooraanstaande academische wetenschappers, onderzoekers en onderzoekers samen te brengen om hun ervaringen en onderzoeksresultaten uit te wisselen en te delen over alle aspecten van Imaging Based Material Characterization of Electronics and Applications. Het biedt ook een eersteklas interdisciplinaire platform voor onderzoekers, beoefenaars en opvoeders te presenteren en te bespreken de meest recente innovaties, trends en zorgen, alsmede praktische uitdagingen ondervonden en oplossingen die op het gebied van Imaging Based Material Characterization van elektronica en toepassingen